Surfix?Pro系列干膜测厚仪对照表

对比品类

Surfix® Pro FN0.2

Surfix® Pro F 1.5R

Surfix® Pro F 20

Surfix® Pro F 3.5

Surfix® Pro FN 1.5R

Surfix® Pro F 10

Surfix® Pro FN 3.5

Surfix® Pro FN 1.5/90°

产品图

品牌

菲尼克斯

产地

德国

德国

德国

德国

德国

德国

德国

德国

规格对比

测量原理

电磁感应+电涡流

电磁感应

电磁感应

电磁感应

电磁感应+电涡流

电磁感应

电磁感应+电涡流

电磁感应+电涡流

测量范围

0~200μm

0~1500 µm

0~20000μm

0~3500 µm

0~1500 µm

0~10000μm

0~3500µm (F)；0~3000 µm (N)

0~1500 µm

误差范围

&plu***n;2.5%

+/– 3μm或3%

+/– 5μm或3%

+/– 3μm或3%

+/– 10μm或3%

+/– 5μm或3%

分辨率

0.1μm

探头

FN0.2标准外接探头：Ø14x 83mm 零校精度+/– (0.7μm+1.5 %)   铝箔校准精度+/– (0.7μm+1,0 %)

F 1.5R特殊外接探头Ø14x14x14mm 零校精度+/– (1.0 μm + 2   %) 铝箔校准精度+/– (1.0 μm + 1 %)

F 20特殊外接探头Ø50x 57mm 零校精度+/– (10 μm + 4 %)   铝箔校准精度+/– (10 μm + 2 %)

F 3.5特殊外接探头Ø14x83mm 零校精度+/– (2.0 μm + 2 %)   铝箔校准精度+/– (2.0 μm + 1 %)

N1.5标准外接探头Ø14x 24 x 24mm 零校精度+/– (1.0 μm +   2 %) 铝箔校准精度+/– (1.0 μm + 1 %)

F 10特殊外接探头Ø25x 47mm 零校精度+/– (5.0 μm + 2 %)   铝箔校准精度+/– (3.0 μm + 1 %)

FN 3.5特殊外接探头：Ø 25x 47mm 零校精度+/– (2.0 μm + 2   %) 铝箔校准精度+/– (2.0 μm + 1 %)

FN 1.5/90°特殊外接探头：Ø 8x 11 x 170mm 零校精度+/–   (1.0 μm + 2 %) 铝箔校准精度+/– (1.0 μm + 1 %)

统计功能

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

n, x¯ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk

图示功能

有

有

有

无

有

有

有

有

重量(g)

205+70g

205+90g

205+200g

205+105g

205+90g

205+85g

205+105g

205+90g

尺寸(mm)

137×66×23

137×66×23

137×66×23

137×66×23

137×66×23

137×66×23

137×66×23

137×66×23

供电形式

2节AAA电池

满足标准

DIN，ISO，BS ASTM

校准证书

出厂证书

系统语言

多语言菜单

显示屏幕

高分辨率彩色显示器 背光

数据接口

蓝牙4和USB 2接口

配套软件

phynix.connect数据传输软件

友情提醒：本页为Surfix®   Pro系列干膜测厚仪对比表，请详细阅读***资料。